金属学及金属工艺论文_X射线荧光光谱测定银铜

2022/01/11

前言

1 实验部分

1.1 主要仪器

1.2 分析线条件选择

1.3 实际样品测量

2 结果与讨论

2.1 两种标准校准曲线的原理

2.1.1直接校正法

2.1.2二元比例法

2.2 用于工作曲线样品的制备

2.3 工作曲线的选择

2.3.1直接校正法制作Ag元素含量的工作曲线

2.3.2直接校正法制作Cu元素含量的工作曲线

2.3.3二元比例法制作工作曲线。

2.4 精密度

2.5 结果对照

3 结论

文章摘要:本文建立了X射线荧光光谱测定银铜合金中的银,选择不同的标准校准曲线:直接校正法和二元比例法,比较了两种实验结果。实验表明二元比例法优于直接校正法,方法稳定性好、抗干扰能力强、相对标准偏差（RSD）小于0.31%,检测结果与原子吸收光谱法（AAS）一致。

文章关键词:

论文DOI:10.19574/j.cnki.issn1672-7665.2022.01.011

论文分类号:TG115.33